功率分析儀的日常(chang)使(shi)用(yong)校(xiao)準方(fang)法(fa)

電壓測量(liang)回路燒壞

故障現象：電壓測量值(zhi)出現偏差或無(wu)示值(zhi)。

故(gu)障原因推測分析(xi)：外部施加了遠超出儀器耐受范(fan)圍的電(dian)壓(ya)(持續的或(huo)瞬(shun)時的)，燒壞基板。

故障現象：電流測量值出現偏差，無示值或顯示OL。

故障原因(yin)推(tui)測分析：外部施(shi)加(jia)了遠超出(chu)儀器(qi)(qi)耐受范圍的(de)電流，燒壞基板。或是接線(xian)錯誤，誤將電壓施(shi)加(jia)在(zai)電流分流器(qi)(qi)兩端，造成(cheng)分流器(qi)(qi)及(ji)相關(guan)回(hui)路急劇發熱，燒壞基板。

故障(zhang)現象：儀器無法與上(shang)位(wei)機(ji)通(tong)訊(xun)。

故障原因推測(ce)分析：儀器接(jie)地(di)不(bu)良(liang)，異常電流流入板(ban)(ban)卡，燒壞基(ji)板(ban)(ban)。或人為誤操作，外(wai)部施(shi)加了過大(da)信號(hao)，燒壞基(ji)板(ban)(ban)。

接地不(bu)良

主要(yao)原(yuan)因推(tui)測分(fen)析(xi)：

1.國標，歐(ou)式(shi)，美式(shi)多種(zhong)制式(shi)插頭混用。

2.使(shi)用舊(jiu)國標的(de)插(cha)座。

板(ban)件受損(sun)腐蝕

故(gu)障現象：儀器(qi)無法開機(ji)或功能異(yi)常。

故障原(yuan)因(yin)推測分析：儀器使用(yong)環境惡劣，濕度(du)溫(wen)度(du)不符合使用(yong)要求或有污染物(wu)侵入(ru)儀器內部。

什(shen)么是校準

校準（Calibration）：

在規定條(tiao)件(jian)下的(de)一組(zu)操作，第(di)一步是(shi)(shi)確定由測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)標(biao)準(zhun)提供的(de)量(liang)(liang)值(zhi)與(yu)(yu)相應示(shi)值(zhi)之間的(de)關系，第(di)二步是(shi)(shi)用此(ci)信(xin)息確定由示(shi)值(zhi)獲得測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)結果的(de)關系，這里(li)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)標(biao)準(zhun)提供的(de)量(liang)(liang)值(zhi)與(yu)(yu)相應示(shi)值(zhi)都具有測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)不確定度。

本質上，校(xiao)準是在建立一種(zhong)聯系(xi)，將“未知"和“已知"相互聯系(xi)，并包含了這(zhe)種(zhong)聯系(xi)的“不確(que)定"程度。

校(xiao)準的(de)工作(zuo)內容：

按照合理的溯源途徑和國家計量校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)規(gui)(gui)范或其他(ta)經確(que)(que)認的校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)技術文件所規(gui)(gui)定(ding)的校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)條件，校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)項(xiang)目(mu)和校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)方法，將(jiang)被校(xiao)(xiao)對象與(yu)計量標準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)進行(xing)比較和數據處理。最終將(jiang)結(jie)果清楚明(ming)確(que)(que)地表達(da)在校(xiao)(xiao)準(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)(zhun)證書(shu)中(zhong)。