功率分析儀的日常(chang)使用與校準

電壓(ya)測量回(hui)路燒壞

故障現象：電壓測(ce)量(liang)值出現偏差或無示值。

故障原因(yin)推測分析：外(wai)部施(shi)加了遠超出儀器耐受(shou)范圍(wei)的(de)電(dian)壓(持續的(de)或瞬時(shi)的(de))，燒壞基(ji)板。

故(gu)障(zhang)現象：電流(liu)測量(liang)值出現偏差，無示值或顯示OL。

故障原因(yin)推測分析(xi)：外部施(shi)加(jia)了遠超出儀(yi)器(qi)耐受(shou)范(fan)圍的(de)電流，燒(shao)壞基板。或(huo)是接線錯(cuo)誤，誤將(jiang)電壓施(shi)加(jia)在電流分流器(qi)兩端，造成(cheng)分流器(qi)及相關回路(lu)急劇(ju)發熱(re)，燒(shao)壞基板。

故障現象：儀器無法與上(shang)位(wei)機通(tong)訊。

故障(zhang)原(yuan)因推測分析(xi)：儀器接地不良，異常電流流入板(ban)卡，燒(shao)壞基(ji)(ji)板(ban)。或人為誤(wu)操作，外部施加了過大信號(hao)，燒(shao)壞基(ji)(ji)板(ban)。

接地不良(liang)

主要原(yuan)因推測分析：

1.國(guo)標，歐式，美式多種制式插頭混用。

2.使用舊國標的插(cha)座。

板件(jian)受損(sun)腐蝕

故障現象：儀(yi)器無法開機或(huo)功能(neng)異常(chang)。

故障原因推測(ce)分析：儀(yi)(yi)器(qi)使用環境惡劣(lie)，濕度溫度不(bu)符合使用要求或(huo)有(you)污染(ran)物侵入儀(yi)(yi)器(qi)內(nei)部。

什么是校準

校準（Calibration）：

在(zai)規定(ding)(ding)條件下(xia)的(de)一組操作，第一步是確定(ding)(ding)由測(ce)量標準提供(gong)的(de)量值(zhi)(zhi)(zhi)與相應示(shi)值(zhi)(zhi)(zhi)之間的(de)關系，第二(er)步是用此信息確定(ding)(ding)由示(shi)值(zhi)(zhi)(zhi)獲得測(ce)量結果的(de)關系，這(zhe)里(li)測(ce)量標準提供(gong)的(de)量值(zhi)(zhi)(zhi)與相應示(shi)值(zhi)(zhi)(zhi)都(dou)具有測(ce)量不確定(ding)(ding)度。

本質上，校準是在建(jian)立(li)一種聯(lian)系(xi)，將“未知"和“已知"相(xiang)互(hu)聯(lian)系(xi)，并包含(han)了(le)這種聯(lian)系(xi)的“不確定"程度。

校(xiao)準的工作內(nei)容(rong)：

按照合理(li)的(de)溯源途徑和(he)(he)(he)國家計(ji)(ji)量校(xiao)(xiao)準(zhun)規范或其他(ta)經(jing)確(que)認的(de)校(xiao)(xiao)準(zhun)技術文件(jian)所規定的(de)校(xiao)(xiao)準(zhun)條件(jian)，校(xiao)(xiao)準(zhun)項目和(he)(he)(he)校(xiao)(xiao)準(zhun)方法，將(jiang)被校(xiao)(xiao)對象與計(ji)(ji)量標準(zhun)進行(xing)比較和(he)(he)(he)數(shu)據處理(li)。最終將(jiang)結果清楚明確(que)地表(biao)達在校(xiao)(xiao)準(zhun)證書中。