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Jinko金科8通(tong)道電(dian)(dian)(dian)(dian)池分容柜(ju) ? 智(zhi)能的掉(diao)(diao)電(dian)(dian)(dian)(dian)保(bao)護措施，在電(dian)(dian)(dian)(dian)池測(ce)試(shi)過(guo)程中，任何時候出現供電(dian)(dian)(dian)(dian)系統停電(dian)(dian)(dian)(dian)或(huo)掉(diao)(diao)電(dian)(dian)(dian)(dian)（配合UPS系統保(bao)證系統軟件正(zheng)常退(tui)出），本測(ce)試(shi)系統均能保(bao)證不丟失數據，重(zhong)新上電(dian)(dian)(dian)(dian)后，測(ce)試(shi)系統具備自恢復功能，能從上次掉(diao)(diao)電(dian)(dian)(dian)(dian)的地方無縫(feng)接續(xu)，繼續(xu)測(ce)試(shi)過(guo)程。
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Jinko金科(ke)JK2510多路電(dian)(dian)池測試儀 真彩4.3吋(cun)液晶可(ke)(ke)(ke)同時(shi)顯示10路電(dian)(dian)壓和內(nei)阻值，并且每個(ge)通(tong)道(dao)可(ke)(ke)(ke)以(yi)單獨設置比(bi)較器，JK2510可(ke)(ke)(ke)以(yi)測試電(dian)(dian)阻：0.001mΩ~33.000kΩ 電(dian)(dian)壓：0.0001V~60.000VDC，全(quan)新改(gai)進(jin)的(de)采(cai)樣電(dian)(dian)路，可(ke)(ke)(ke)以(yi)測量任(ren)何種類的(de)電(dian)(dian)池。
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Jinko金(jin)科JK5506模擬(ni)電(dian)池測(ce)試儀 模擬(ni)20V 10A的電(dian)池，顯示電(dian)壓電(dian)流(liu)(liu)(liu)隨時(shi)間(jian)變化的曲線(xian)關系并可(ke)作(zuo)為六(liu)位半電(dian)流(liu)(liu)(liu)表測(ce)試PCBA的靜(jing)態電(dian)流(liu)(liu)(liu)。
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Jinko金科JK5530B /C/T/L/X電池綜合測試(shi)儀(yi) 充(chong)放電100W 過流30A 快(kuai)速(su)測試(shi)1.5s 適合流水線測試(shi)，高(gao)效快(kuai)捷。分聯機(ji)版和常規版
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Jinko金科(ke)JK5520鋰電(dian)(dian)芯短路測(ce)試(shi)儀在(zai)精簡了部(bu)分功(gong)能后以達到更佳(jia)的(de)(de)性(xing)價比，是ARM處理器控制的(de)(de)智能測(ce)試(shi)儀器。輸出0.001V~1000V任意電(dian)(dian)壓輸出，具(ju)有電(dian)(dian)壓回讀功(gong)能，基本測(ce)試(shi)精度達0.1%。六量(liang)程(cheng)測(ce)試(shi)，使絕緣電(dian)(dian)阻(zu)測(ce)量(liang)范(fan)圍:1Ω-50TΩ，顯示位數(shu)9999數(shu)。測(ce)試(shi)速度可(ke)達20次(ci)/秒，高速測(ce)試(shi)為自動(dong)化生產提供(gong)了方(fang)案(an)。儀器擁有分選功(gong)能，分選訊響設置，還可(ke)選配Ha
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Jinko金科JK625電(dian)池(chi)內(nei)(nei)阻測(ce)試儀 JK625蓄電(dian)池(chi)內(nei)(nei)阻測(ce)試儀是一款(kuan)可在線(xian)測(ce)量電(dian)池(chi)內(nei)(nei)阻和電(dian)壓的儀表，采用高性能32位ARM微(wei)處理器(qi)控制.全自動實(shi)時檢測(ce)的微(wei)型(xing)(xing)手(shou)持式(shi)儀器(qi)，內(nei)(nei)置大容量鋰電(dian)池(chi)實(shi)現超長(chang)待機 JK625兼備了手(shou)持表的便(bian)攜型(xing)(xing)和臺(tai)式(shi)儀器(qi).
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Jinko金(jin)科JK3561電池(chi)內阻(zu)測試儀 產品描述：內阻(zu)最小分辨(bian)率0.1μΩ，電壓最小分辨(bian)率10μV,最高測量電壓1000V，
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常(chang)州貝(bei)奇(qi)CH400系列變壓(ya)(ya)器(qi)電(dian)量測(ce)試儀(yi) 該系列儀(yi)器(qi)采用(yong)(yong)數(shu)字同(tong)步采樣及微機技術，能(neng)準確測(ce)量變壓(ya)(ya)器(qi)的(de)(de)(de)初級電(dian)壓(ya)(ya)、電(dian)流(liu)、功率、功率因(yin)數(shu)的(de)(de)(de)真(zhen)有(you)效值(zhi)(zhi)，次(ci)級電(dian)壓(ya)(ya)、電(dian)流(liu)的(de)(de)(de)真(zhen)有(you)效值(zhi)(zhi)（交(jiao)流(liu)）或平均值(zhi)(zhi)（直流(liu)），次(ci)級電(dian)壓(ya)(ya)紋波(bo)的(de)(de)(de)真(zhen)有(you)效值(zhi)(zhi)。內(nei)置(zhi)電(dian)子負載能(neng)方(fang)便(bian)的(de)(de)(de)進行空、負載轉換測(ce)試。具有(you)測(ce)試速度快(kuai)、精(jing)度高、使用(yong)(yong)方(fang)便(bian)、顯(xian)示直觀等優(you)點(dian)
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常州貝奇CH1201R線(xian)圈(quan)圈(quan)數測(ce)(ce)試(shi)儀 性(xing)能(neng)特點： 全新電路改良設計 采(cai)用CPLD與MCU雙重控制 快速測(ce)(ce)量，更(geng)高精度(du) 測(ce)(ce)量范圍更(geng)寬
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常州貝奇CH1201 線(xian)圈圈數測(ce)試儀 性能特(te)點： 全新電路改良設計(ji) 采用CPLD與(yu)MCU雙重控制 快速測(ce)量(liang)，更高精度(du) 測(ce)量(liang)范圍更寬
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常州貝奇CH1200R線(xian)圈(quan)圈(quan)數測(ce)試儀 性能(neng)特點： 外觀新穎，性能(neng)更好(hao) 微(wei)處理器控制 電(dian)阻采用準四端測(ce)試方式 測(ce)試穩定(ding)，精(jing)度高
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常州(zhou)貝奇CH1200線圈(quan)圈(quan)數測(ce)試儀 性(xing)能(neng)特點： 外觀新(xin)穎，性(xing)能(neng)更(geng)好 微處理器控制 電阻采用準四端測(ce)試方式 測(ce)試穩定，精度高
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