在耐(nai)壓測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方面(mian)(mian)，輸出功率 AC：200VA（10kV、20mA），DC：120VA（12kV、 10mA），因此(ci)可用來為(wei)高(gao)耐(nai)壓的(de)定子、電(dian)機等設備做耐(nai)壓測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)，也可以對零件(jian)做同樣的(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)。在絕(jue)緣電(dian)阻測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方面(mian)(mian)，所能顯(xian)(xian)示范圍為(wei) 0.1MΩ～50GΩ，測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)電(dian)壓為(wei) 50V～5000V 可任(ren)意(yi)設定。在開短路檢測(ce)(ce)(ce)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方面(mian)(mian)，可在進(jin)行(xing)高(gao)壓測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)前，先判斷被測(ce)(ce)(ce)件(jian)是(shi)否可靠連(lian)接(jie)，再進(jin)行(xing)高(gao)壓測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)。在顯(xian)(xian)示方面(mian)(mian)，所有(you)的(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)模式、時(shi)間、電(dian)壓、電(dian)流、電(dian)阻值、測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)步(bu)驟等都在顯(xian)(xian)示器上(shang)顯(xian)(xian)示，另有(you)列表顯(xian)(xian)示模式，顯(xian)(xian)示多步(bu)驟的(de)設置及順序測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結果。

儀器標配HANDLER（機(ji)械手接(jie)口）、RS-232、LAN、USB DEVICE、USB HOST；選配GPIB接(jie)口，無論是連接(jie)上位(wei)機(ji)、PLC、自動化(hua)系統都得心應手。一件(jian)截(jie)屏、一鍵(jian)記(ji)錄功能方便將(jiang)測試結(jie)果保存至U盤可定制上位(wei)機(ji)軟件(jian)，操作更靈活(huo)，記(ji)錄更方便。

功能特點

A.絕緣崩潰檢測

常規(gui)測(ce)試耐(nai)壓，如圖A-1所示，只是設定了上升時間和測(ce)試電(dian)壓值，如果在測(ce)試時間內，被測(ce)件出現擊(ji)穿現象，則判斷(duan)(duan)耐(nai)壓不良(liang)，直(zhi)接(jie)切斷(duan)(duan)測(ce)試電(dian)壓。因此，常規(gui)耐(nai)壓檢測(ce)僅能判斷(duan)(duan)在定電(dian)壓下耐(nai)壓是否合(he)格。

但是(shi)有些被(bei)動組(zu)件(jian)或者材料，需要檢測(ce)(ce)(ce)其高壓(ya)耐受程度(du)，并得出準確的(de)(de)崩(beng)潰(kui)(kui)(kui)電(dian)(dian)壓(ya)值(zhi)，那(nei)么常(chang)規的(de)(de)耐壓(ya)檢測(ce)(ce)(ce)方法就無(wu)能(neng)為(wei)力了。因此(ci)TH9120A/TH9120D增加了崩(beng)潰(kui)(kui)(kui)電(dian)(dian)壓(ya)檢測(ce)(ce)(ce)功能(neng)，如圖A-2所示，崩(beng)潰(kui)(kui)(kui)電(dian)(dian)壓(ya)測(ce)(ce)(ce)試功能(neng)是(shi)根(gen)據設定(ding)爬(pa)升的(de)(de)起始(shi)電(dian)(dian)壓(ya)、截止電(dian)(dian)壓(ya)、電(dian)(dian)壓(ya)步進(jin)及時間間隔，逐漸對被(bei)測(ce)(ce)(ce)件(jian)進(jin)行測(ce)(ce)(ce)量(liang)，當(dang)被(bei)測(ce)(ce)(ce)件(jian)出現(xian)耐壓(ya)絕緣(yuan)不良的(de)(de)現(xian)象(xiang)后，自(zi)動保存此(ci)時的(de)(de)電(dian)(dian)壓(ya)值(zhi)即為(wei)崩(beng)潰(kui)(kui)(kui)電(dian)(dian)壓(ya)。

如果電(dian)壓(ya)(ya)(ya)值(zhi)爬升到(dao)截(jie)止(zhi)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)，被測件(jian)仍未出現崩(beng)潰(kui)現象，則可(ke)以重新(xin)設置(zhi)截(jie)止(zhi)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)等，進(jin)(jin)行進(jin)(jin)一步分(fen)析，直至得到(dao)正確的崩(beng)潰(kui)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)值(zhi)。崩(beng)潰(kui)電(dian)壓(ya)(ya)(ya)測試(shi)模(mo)式，可(ke)以對(dui)被測件(jian)進(jin)(jin)行分(fen)析，準(zhun)確獲知產生絕(jue)緣不良的耐壓(ya)(ya)(ya)程度，研究人員由此可(ke)針對(dui)組件(jian)絕(jue)緣較弱的部份進(jin)(jin)行改善。

B. 耐壓絕緣測試和電弧偵測(ARC)

耐(nai)壓(ya)不良是指在耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)中有電(dian)氣閃絡或絕緣(yuan)破壞發(fa)生。現在耐(nai)壓(ya)絕緣(yuan)測(ce)試(shi)已經成為各(ge)類電(dian)器設備(bei)和絕緣(yuan)材(cai)料安全測(ce)試(shi)的(de)標準配備(bei)。但(dan)是,僅僅考慮到絕緣(yuan)失效并不能(neng)解決產(chan)品(pin)安全問(wen)題,另(ling)一類現象,電(dian)弧放(fang)(fang)電(dian)ARC在耐(nai)壓(ya)測(ce)試(shi)中越(yue)來越(yue)得到重視,放(fang)(fang)電(dian)與絕緣(yuan)能(neng)力(li)之間具有高的(de)相關性，所以(yi)ARC偵測(ce)是控制產(chan)品(pin)質(zhi)量的(de)關鍵。

以(yi)下兩(liang)種情況(kuang)會出(chu)現(xian)電弧放(fang)電現(xian)象：

a) 當材料(liao)承受(shou)較高電(dian)(dian)壓，電(dian)(dian)場強(qiang)度(du)大(da)于氣體的電(dian)(dian)離能(neng)時，會(hui)讓材料(liao)表面氣體發生瞬時電(dian)(dian)離現(xian)象，此時會(hui)在材料(liao)表面形成打(da)火并(bing)對材料(liao)形成溫升(sheng)現(xian)象。長期的打(da)火和溫升(sheng)可能(neng)會(hui)造成材料(liao)的質變，進(jin)而導致絕(jue)緣劣(lie)化，使得電(dian)(dian)壓耐(nai)受(shou)程度(du)下降(jiang)，最終發生絕(jue)緣失(shi)效。

b) 被(bei)(bei)測(ce)件檢測(ce)點間距過(guo)小時,在被(bei)(bei)測(ce)件兩(liang)端施加較高電(dian)(dian)壓，檢測(ce)點兩(liang)端空間里的(de)空氣會被(bei)(bei)電(dian)(dian)離，形成(cheng)打火現(xian)象，也就是(shi)拉弧現(xian)象。拉弧現(xian)象產生高頻的(de)瞬時放電(dian)(dian)，在測(ce)試過(guo)程(cheng)中產生了一(yi)個(ge)高頻電(dian)(dian)流信號如(ru)圖，電(dian)(dian)弧偵測(ce)（ARC）功能(neng)是(shi)用(yong)高頻電(dian)(dian)量量測(ce)的(de)方式(shi)偵測(ce)，判(pan)斷出材料絕緣性能(neng)是(shi)否有不良。

C. 開短路偵測功(gong)能（僅TH9120A）

在(zai)耐壓測(ce)(ce)(ce)試過程中(zhong)由于(yu)被(bei)測(ce)(ce)(ce)件(jian)與測(ce)(ce)(ce)試線(xian)接觸不良(liang)(liang)、測(ce)(ce)(ce)試線(xian)損壞等，會發生開(kai)(kai)路現象(xiang)，導致不良(liang)(liang)品(pin)誤判為良(liang)(liang)品(pin)；被(bei)測(ce)(ce)(ce)件(jian)損壞或(huo)者被(bei)測(ce)(ce)(ce)端間(jian)距太小導致測(ce)(ce)(ce)試線(xian)短(duan)(duan)路現象(xiang)，使用OCS功(gong)能，儀器可預先(xian)偵知(zhi)測(ce)(ce)(ce)試端開(kai)(kai)短(duan)(duan)路情況，減少對(dui)治具設(she)備的(de)傷害(hai)，節省測(ce)(ce)(ce)試成本。

一(yi)(yi)般耐壓測試產(chan)(chan)品皆呈電容(rong)性(CDUT)，在(zai)正(zheng)(zheng)常(chang)(chang)狀態下(xia)可能在(zai)數十(shi)pF至數μF之(zhi)間。開路時(shi)可等效(xiao)為串聯(lian)一(yi)(yi)個低(di)于(yu)10pF的(de)小電容(rong)COPEN，使總(zong)容(rong)量(liang)遠低(di)于(yu)正(zheng)(zheng)常(chang)(chang)產(chan)(chan)品。短路時(shi)電容(rong)量(liang)遠大于(yu)正(zheng)(zheng)常(chang)(chang)容(rong)量(liang)。因(yin)此可利用電容(rong)量(liang)變化之(zhi)上下(xia)限值(zhi)判斷，減(jian)少產(chan)(chan)線接觸(chu)不良(liang)的(de)問題發生(sheng)。

D. 引腳檢測（接觸檢查功能）

對(dui)于產線測(ce)試(shi)時的接觸檢查問題，除OSC功(gong)能外，還增(zeng)加了引腳檢測(ce)功(gong)能（圖D），確(que)保被測(ce)件(jian)與(yu)測(ce)試(shi)線連接可靠(kao)(kao)，提升測(ce)試(shi)可靠(kao)(kao)度與(yu)效(xiao)率。

E. 后面板輸出(chu)功能(neng)

可(ke)在儀器后面板輸出(chu)高壓(圖E)，自動化測試或系統集成接線更(geng)美觀，更(geng)方便。

應用

■ 高耐壓測試、高壓光耦、高壓繼電器、高壓開關等絕緣較高的器件

■ 電子元器件、電容、線圈、鐵心、扼流圈、濾波器等

■ 電氣產品、家用電器、信息產品、影音設備、電熱器具、照明設備

■ 非電氣產品、線材、不織布、絕緣材料等耐壓及絕緣阻抗測試

■ 新能源汽車

■ 自動化測試系統