EM5030CYBERTEK知用EM5030近場探頭的詳細資料：

概述：

     EM5030 CYBERTEK近(jin)場(chang)(chang)探頭套(tao)件(jian)主要用(yong)于電子產品(pin)的(de)(de)電磁場(chang)(chang)測(ce)量，實現干擾源快速(su)位，多種(zhong)形狀(zhuang)的(de)(de)探頭，寬頻率范圍，可(ke)以(yi)完(wan)成多種(zhong)的(de)(de)電磁場(chang)(chang)測(ce)試任務。配套(tao)使用(yong)的(de)(de)放(fang)大器，增益約20dB，可(ke)提高(gao)系(xi)統(tong)測(ce)試靈敏度(du)！廣(guang)泛應用(yong)于檢測(ce)器件(jian)或者是表(biao)面的(de)(de)磁場(chang)(chang)方向及強度(du)；機箱、線纜(lan)、PCB模塊等磁場(chang)(chang)泄露情況；甚至可(ke)以(yi)精確到IC引腳(jiao)以(yi)及具體的(de)(de)走線，從而判斷干擾產生的(de)(de)原因，提高(gao)產品(pin)設計水平，縮(suo)短產品(pin)開(kai)發周期。