簡介

TH2883系列產(chan)品是同惠(hui)研發的(de)脈(mo)沖式線圈測試儀(yi)產(chan)品線。可完整(zheng)提供低壓30V到(dao)高壓10kV，單通道到(dao)多通道（最大(da)8通道）系列線圈測試儀(yi)解(jie)決(jue)方案(an)。

該(gai)產(chan)品線采(cai)用當前(qian)主流32bit CPU和高密度 SMD貼(tie)裝工藝，65k色的7寸寬屏TFT顯(xian)示(shi)器。操(cao)作功能簡潔易用，顯(xian)示(shi)界(jie)面清新亮麗。低30V，最高10kV涵蓋寬范圍脈沖電壓，低至1uH電感量的線圈(quan)測試，高達(da)200Msps的采(cai)樣率，6k Bytes的存儲深度，讓您(nin)的測試“無(wu)微不(bu)至"。

TH2883系列(lie)根據輸出(chu)電壓(ya)不同(tong)分為TH2883-1、TH2883-5、TH2883-10三種(zhong)單通(tong)(tong)道輸出(chu)的(de)型號。TH2883-1是(shi)低電感脈(mo)沖(chong)式線(xian)圈(quan)(quan)(quan)測(ce)(ce)試儀，具(ju)有低30V、最高1200V的(de)脈(mo)沖(chong)電壓(ya)，可測(ce)(ce)試低至1uH電感量的(de)線(xian)圈(quan)(quan)(quan)，是(shi)開(kai)關電源(yuan)等(deng)所用電感線(xian)圈(quan)(quan)(quan)的(de)理想(xiang)測(ce)(ce)試產品。TH2883-5具(ju)有100V-5000V的(de)寬范圍脈(mo)沖(chong)電壓(ya)，是(shi)測(ce)(ce)試各種(zhong)線(xian)圈(quan)(quan)(quan)的(de)標配產品。TH2883-10具(ju)有最高10kV的(de)脈(mo)沖(chong)輸出(chu)電壓(ya)，可測(ce)(ce)試更高絕緣耐壓(ya)的(de)匝間(jian)測(ce)(ce)試。若配備(bei)TH28831匝間(jian)絕緣多路掃描(miao)儀可將上述三款單通(tong)(tong)道測(ce)(ce)試儀擴展為10通(tong)(tong)道。

TH2883系(xi)列(lie)還提供(gong)了4通(tong)道與8通(tong)道兩(liang)款多路測試的一體(ti)機(ji)，他(ta)們所(suo)對應的型號分別為TH2883S4-5和TH2883S8-5供(gong)用(yong)戶靈活選擇。

TH2883系列(lie)產品標配(pei)USBHost、RS232C、USB Device和LAN接(jie)口(kou)，既方便(bian)您(nin)圖形的(de)快速保存(cun)，又方便(bian)您(nin)進行(xing)遠程控制(zhi)。

功(gong)能特點(dian)

A. 線圈性能分析

線圈(quan)類產(chan)品（如變壓器、電(dian)(dian)機等）由(you)于繞(rao)線材(cai)料(liao)、磁性材(cai)料(liao)、骨架(jia)、加工工藝等因素的(de)影響會產(chan)生線圈(quan)層(ceng)(ceng)間(jian)、匝(za)間(jian)及引腳間(jian)等絕緣性能(neng)的(de)降低。TH2883系(xi)列脈(mo)沖(chong)式(shi)線圈(quan)測試儀通過比(bi)較被測線圈(quan)的(de)衰減振蕩(dang)波(bo)型與(yu)標準波(bo)形來判定該繞(rao)組的(de)電(dian)(dian)感、品質(zhi)因素（Q值(zhi)）、繞(rao)組的(de)圈(quan)數差(cha)、匝(za)間(jian)層(ceng)(ceng)間(jian)短路(lu)，在有導(dao)磁材(cai)料(liao)的(de)情(qing)況下還(huan)能(neng)判斷(duan)其材(cai)質(zhi)的(de)差(cha)別，高壓脈(mo)沖(chong)下電(dian)(dian)暈(yun)放電(dian)(dian)的(de)發生還(huan)可以對繞(rao)組層(ceng)(ceng)間(jian)或多個繞(rao)組間(jian)絕緣不良進行判定。

圖(tu)A-1中(zhong)的(de)自激振蕩衰減波形直接和(he)線圈(quan)(quan)的(de)電(dian)(dian)感值(zhi) L 及(ji)品(pin)質(zhi)因素 Q 值(zhi)有著(zhu)密(mi)切(qie)的(de)關(guan)系(xi)，而 L 值(zhi)及(ji) Q 值(zhi)又(you)和(he)線圈(quan)(quan)的(de)圈(quan)(quan)數、制造工藝、是否空(kong)心線圈(quan)(quan)并(bing)且還與導磁材(cai)料特性又(you)有著(zhu)不可分割的(de)關(guan)系(xi)。由于(yu)施加(jia)電(dian)(dian)壓是高壓脈(mo)沖(chong)電(dian)(dian)壓，因此(ci)，線圈(quan)(quan)短路、匝間(jian)局部短路或(huo)由于(yu)絕緣損傷引(yin)起(qi)的(de)層間(jian)或(huo)匝間(jian)電(dian)(dian)暈放(fang)電(dian)(dian)現(xian)象自然很容(rong)易被發現(xian)。

B. 四種波形判斷(duan)方(fang)法

a) 面積(ji)比較方(fang)法

如圖(tu) B-1 所(suo)示，在(zai)(zai)任意定的 A～B 區(qu)間(jian)內對(dui)被(bei)測(ce)(ce)線(xian)圈測(ce)(ce)試(shi)波形面(mian)積進行(積分(fen))計算，并(bing)與(yu)標(biao)準波形在(zai)(zai)此區(qu)間(jian)內的面(mian)積進行比(bi)較，用這(zhe)兩個波形面(mian)積的差異值與(yu)標(biao)準波形在(zai)(zai)此區(qu)間(jian)的面(mian)積的百分(fen)比(bi)作為判定依據，判定基準用百分(fen)比(bi)來設定。

波形面積(ji)近似(si)的(de)與能量損失成正(zheng)比，所以(yi)(yi)可(ke)以(yi)(yi)使(shi)用面積(ji)比較(jiao)方法來判(pan)斷線圈中的(de)能量損耗，有(you)效的(de)檢(jian)測(ce)線圈層間(jian)和匝間(jian)短路。

b) 面積差比較方法

如圖 B-2 所示(shi)，在任(ren)意定(ding) A～B 區間內對被測線圈測試波形(xing)和(he)標準波形(xing)的 Y 軸方向的差異值進行計(ji)算(積(ji)分(fen)計(ji)算的結果為(wei) A～B 區間內的陰影部分(fen))和(he)標準波形(xing)在此(ci)區間的面積(ji)比(bi)較(jiao)，基準用百(bai)分(fen)比(bi)來設定(ding)。

面積(ji)差比較方(fang)法主要表現了電(dian)感(gan)量 L 的(de)(de)差異和能(neng)量的(de)(de)損(sun)耗，這個比較方(fang)法可(ke)以有效(xiao)的(de)(de)檢測標(biao)準(zhun)線圈和被測線圈的(de)(de)電(dian)感(gan)量 L 的(de)(de)差異。

c) 電(dian)暈比較方法(fa)

如圖 B-3 所示，與波形的差(cha)異無關，在(zai)任意定的 A～B 區間內，僅在(zai)被測線圈測試波形包含的電暈放電尖峰中檢出高頻(pin)成分進行(xing)無損提取(qu)，并將計(ji)算結果與設定值進行(xing)比較， 判定電暈放電量是否合格，設定值是一個整(zheng)數。

此方法對線(xian)圈(quan)內部絕(jue)緣(yuan)性(xing)能反(fan)應明(ming)顯。對于線(xian)圈(quan)絕(jue)緣(yuan)性(xing)能要求高的(de)(de)場合需要使用電暈比(bi)較方法，因為絕(jue)緣(yuan)性(xing)能的(de)(de)好壞(huai)直接影響(xiang)線(xian)圈(quan)產品的(de)(de)使用壽(shou)命(ming)到長短。

d) 相位差比較方法

如圖 B-4 所示，用(yong)戶可以(yi)定(ding)一個需要作(zuo)比較(jiao)的過(guo)零點(dian)，儀器判(pan)斷被測(ce)(ce)線圈測(ce)(ce)試(shi)波(bo)(bo)形(xing)和(he)標準(zhun)波(bo)(bo)形(xing)在這(zhe)個過(guo)零點(dian)的偏移量(liang)，然后和(he)標準(zhun)波(bo)(bo)形(xing)的振(zhen)蕩周期(qi)作(zuo)比較(jiao)，并用(yong)這(zhe)兩(liang)個量(liang)的百分(fen)比作(zuo)為判(pan)斷依(yi)據(ju)，基準(zhun)用(yong)百分(fen)比來設(she)定(ding)。如圖中，A～B 間是偏移量(liang)，C～D 間是標準(zhun)波(bo)(bo)形(xing)振(zhen)蕩周期(qi)，設(she)定(ding)的是比較(jiao)波(bo)(bo)形(xing)的第3個過(guo)零點(dian)。

此方法主要用來(lai)反(fan)映電感量差(cha)(cha)異。線圈不良可以用相位差(cha)(cha)來(lai)判(pan)別。

面(mian)積(ji)比較主要是根據能(neng)(neng)量損失，能(neng)(neng)夠很有效地(di)進(jin)行層間(jian)短路和圈對圈的檢測(ce)，而電暈則是以發現線(xian)圈內部絕緣缺(que)陷(xian)為目(mu)的的檢測(ce)方法。另外需要考慮電感值問題的話，可以增加(jia)面(mian)積(ji)差(cha)來(lai)比較判定(ding)。

磁芯材料(liao)差(cha)異可以用面積、面積差(cha)和電(dian)(dian)暈(yun)方法來判別。對馬達、螺線管、繼電(dian)(dian)器等大部分線圈(quan)，采用面積比(bi)較和電(dian)(dian)暈(yun)測(ce)試方法。

C. 破壞測試功(gong)能

通過對線圈施加上升步進電壓(ya)，結(jie)合電暈放電的情(qing)況來判斷被測件(jian)的極限(xian)耐壓(ya)值。

D. 多通(tong)道(dao)測試

TH2883系(xi)列(lie)提供4通(tong)道與8通(tong)道兩款多路(lu)測(ce)試的(de)一(yi)體(ti)機，他們所對應的(de)型號分別為(wei)TH2883S4-5和TH2883S8-5。此外還提供一(yi)款將單通(tong)道測(ce)試儀擴展(zhan)為(wei)10通(tong)道的(de)掃(sao)描擴展(zhan)器供用(yong)戶(hu)靈活選擇(ze)。多路(lu)測(ce)試儀的(de)應用(yong)可以(yi)提高對三(san)(san)相四線或三(san)(san)項三(san)(san)線繞(rao)組(zu)(zu)(zu)的(de)測(ce)試效率，一(yi)次測(ce)試多個繞(rao)組(zu)(zu)(zu)，解決多次切換(huan)繞(rao)組(zu)(zu)(zu)的(de)煩(fan)惱。

應用

■ 電機線(xian)圈匝間(jian)絕緣/層間(jian)短路測試

■ 變壓器線圈匝間絕緣/層間短(duan)路測(ce)試

■ 繞(rao)線(xian)電感(gan)線(xian)圈(quan)匝(za)間絕緣(yuan)/層間短(duan)路(lu)測試