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里博leeb232涂層測厚儀主要功能：
采用磁(ci)性(xing)和(he)(he)電渦流兩種測量方法(fa)，可(ke)檢(jian)測磁(ci)性(xing)金屬基體上(shang)非(fei)磁(ci)性(xing)覆(fu)蓋層(ceng)的(de)厚(hou)度(如(ru)鋼鐵合金和(he)(he)硬磁(ci)性(xing)鋼上(shang)的(de)鋁(lv)(lv)、鉻、銅、鋅、錫、橡(xiang)膠(jiao)(jiao)、油漆等),以及非(fei)磁(ci)性(xing)金屬基體上(shang)非(fei)導(dao)電的(de)絕緣(yuan)覆(fu)蓋層(ceng)的(de)厚(hou)度(如(ru)鋁(lv)(lv)、銅、鋅、錫上(shang)的(de)橡(xiang)膠(jiao)(jiao)、塑料、油漆、氧化(hua)膜等)。
● 中文菜單；
● 兩種工作方式；
● 數據刪除功能；
● 對界(jie)限(xian)外的測量值能(neng)自動報(bao)警(jing)；
● 電源欠壓指示；
● 手動和自動兩種關機方式
● 兩種測量方式；
● 可儲存500個(ge)測量值；
● 可設置界限；
里博leeb232涂層測厚儀技術參數：
項目名稱 | Leeb232 | |
測頭類型 | F1和N1 | |
測量原理 | 磁感應和電渦流 | |
測量范圍 | 0 ~ 1250um | |
分辨率 | 0.1um | |
示值誤差 | 一點校準 | ±（3%H+1）um |
二點校準 | ±[（1~3）%H+1]um | |
測試條件 | 最小曲率半徑 | 凸(tu)1.5mm 凹9mm |
最小面積直徑 | φ7mm | |
基本臨界厚度 | 0.5mm | |
工作環境 | 溫度 | 0 ~ 40℃ |
濕度 | 20% ~ 90% | |
電源 | AA堿性電池2節 | |
電壓 | 3V | |
工作時間 | 100小時 | |
外形尺寸 | 130*70*25 mm | |
重量 | 350g | |
外殼材質 | 金屬外殼 | |
標準配置 | 主(zhu)機、標(biao)準試片、基體(ti)、F1和N1探(tan)頭、堿性電(dian)池 | |
可選配件 | 標準試片、探頭 | |
PC通訊 | 有 | |
儀器選用探頭的技術數據
探頭 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N400 | N1 | CN02 | |||||
測量原理 | 磁性 | 渦流 | ||||||||||
測量范圍（μm） | 0～400 | 0～1250 | 0～10mm | 0～400 | 0～12500 | 10～200 | ||||||
測量精度μm | 一點校準 | ±[(1～3)%H+0.7] | ±（3%H+1） | ±（3%H+10） | ±（3%H+1） | ±（3%H+1.5） | H+1) | |||||
二點校準 | ±（1～3％H+0.7） | H+1] | ±[(1～3)%H+10] | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+1.5] | --- | ||||||
低限分辨率 | 0.1 | 0.1 | 1 | 0.1 | 0.1 | 1 | ||||||
最小曲率半徑(mm) | (凸)1 | 1.5 | 平直 | 10 | 1.5 | 3 | 僅為平面 | |||||
最小面積直徑(mm) | ￠3 | ￠7 | ￠40 | ￠4 | ￠5 | ￠7 | ||||||
基(ji)本臨(lin)界(jie)厚(hou)度(mm) | 0.2 | 0.5 | 2 | 0.3 | 0.3 | 無限制 | ||||||
測頭選用參考表
覆蓋層基體 | 有機材料(liao)等(deng)非磁性(xing)覆蓋(gai)層(ceng)（如：漆料(liao)、涂漆、琺瑯、搪瓷(ci)、塑料(liao)和(he)陽極化處理(li)等(deng)） | 非磁性的有(you)色金屬(shu)覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁(lv)、銅、錫、銀等） | |||
覆(fu)蓋層厚(hou)度不(bu)超(chao)過100μm | 覆蓋層厚度超過100μm | 覆蓋層(ceng)厚度不超過100μm | 覆蓋(gai)層厚(hou)度超過100μm | ||
如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測面積直徑大于30mm | F400型(xing)測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm | F1型測頭 F10型測頭 0～10μm | F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm | F1型測頭 F10型測頭 0～10μm |
被測(ce)面積(ji)直徑小(xiao)于30mm | F400型(xing)測頭0～400μm | F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm | F400型測頭0～400μm | F400型測頭0～400μm F1型測頭 0～1250μm | |
如銅(tong)、鋁、黃銅(tong)、鋅、錫等有色金(jin)屬(shu) | 被測(ce)面積直徑大于10mm | N1型測(ce)頭0～1250μm N400測(ce)頭(tou)0～400μm | 僅用于銅上鍍鉻N1型測頭0～40μm N400測頭0～40μm | ||
被測面積直(zhi)徑大(da)于(yu)10mm | N400測(ce)頭0～400μm | N400測頭0～40μm | |||
塑料、印刷(shua)線路非(fei)金屬(shu)基體 | 被測面積直徑大于7mm | -- | -- | CN02型測(ce)頭10～200μm | |
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