簡介

A.10.1寸大屏，四種測量參數，讓細節一覽無遺

       10.1寸觸摸(mo)屏、1280*800分辨(bian)率，Linux系統、中(zhong)英(ying)文操作界面，支持(chi)鍵盤、鼠標、LAN接(jie)口，帶來(lai)的是無(wu)以(yi)倫比的操作便捷

性。

       大屏幕(mu)帶來更(geng)多的好處是，可以把4個(ge)測試參數及分選(xuan)參數、分選(xuan)結(jie)果、功能選(xuan)擇等參數放置(zhi)在同一(yi)屏幕(mu)，而且看起來絕不(bu)擁

擠(ji)和雜亂，同時可(ke)以顯示四種測量(liang)參數，四種測量(liang)參數任(ren)意可(ke)調。

       和早期LCR對比，操作便捷性(xing)、顯示完整性(xing)一目了然。

B.高達1800次/秒測量速度

       由于創新性(xing)的采用了(le)雙(shuang)CPU設(she)計，一個(ge)CPU負責測試處理(li)數(shu)據，另一個(ge)CPU負責顯示數(shu)據，因此(ci)TH2840測試速度高達1800次/秒。

       高速(su)的(de)測(ce)試速(su)度在自動化產(chan)線(xian)可(ke)以極大的(de)提高效率(lv)。

       對(dui)于部分需(xu)要實(shi)時(shi)采樣體現(xian)被測件瞬態變(bian)化特征，或者測量變(bian)化過程(cheng)相應時(shi)間，TH2840系(xi)列0.56ms的(de)測量速度可解決。

       如下列應用，在兩個極板之間(jian)加(jia)載偏(pian)壓，兩端電容隨著偏(pian)置電壓變(bian)化而變(bian)化.

       記(ji)錄未加偏置時(shi)電容C0

       偏置上升過程(cheng)中的電(dian)容值(zhi)

       偏壓達到(dao)20V并且穩定(ding)之后的電(dian)容C1

       計算(suan)從C0-C1之間的穩定時間Th。

       常規的LCR數字電橋，由于測試速度限制，采樣率無法達到幾

乎(hu)實時(shi)采(cai)集，用TH2840系(xi)列雙CPU，可實時(shi)觀察變化過程并計算

出穩定時間。

TH2840X上位機                                                                                                            示波器(qi)實時抓獲波形(xing)

電容測試                                                                             ;                                          CH1: AD脈沖(chong)（黃色(se)）

測試頻率：1MHz                                                                                                          CH2: DC BIAS 打開（綠色)

量程：100Ω                                                                                                                  CH4: DC BIAS 上(shang)升(sheng)（紅色）

上(shang)升瞬(shun)間波形                                                                                                                全(quan)部波形

C.硬件配(pei)置

     ;除(chu)了(le)(le)雙CPU設計，TH2840系列也增強(qiang)了(le)(le)其他硬件配置參數：

    1.    AC測試電(dian)平提升至20Vrms/100mA，同(tong)類(lei)產品僅TH2838H可(ke)達到(dao)，在測試C-V曲線(xian)時(shi)范圍更廣

    2.    DC偏(pian)置(zhi)為±40V/±100mA，為同類產品最高配(pei)置(zhi)

    3.    標配獨立2A直流偏置電(dian)流源，為2A電(dian)流以內電(dian)感(gan)測(ce)試帶來福音(yin)，支持外界TH1778A系列擴展至120A。

    4.    DCR測試電平提升(sheng)至(zhi)20V，測試mH級(ji)及以上電感更快速穩定(ding)精確。

D.改進的分選設(she)置(zhi)

       針對以往LCR分選(xuan)設置及參(can)考設

置來回切換等過于復雜的操作，做(zuo)出

了如下改進以便于客戶使(shi)用及設(she)置：

      1. 合并標稱(cheng)值和(he)參(can)考值的設置

      2. 由于直接采(cai)用了(le)4參數測量及

          分選，因(yin)此(ci)取消附(fu)屬檔、副參(can)

          數檔。

E.增強的列(lie)表(biao)掃描(miao)功能                                                                                                   F.強大的分析圖形(xing)界面

        可(ke)設置(zhi)4個(ge)(ge)測量參(can)數(shu)，4個(ge)(ge)測量參(can)數(shu)有獨立開(kai)關，列表(biao)掃(sao)                                                  4個(ge)(ge)掃(sao)描軌(gui)跡(ji)，1-4個(ge)(ge)測試參(can)數(shu)任意選擇(ze)，掃(sao)描曲線可(ke)以

描(miao)每個點的頻率,電平(ping),偏置(zhi),功(gong)能(neng),延時都可以獨立設置(zhi),滿足了(le)                                            一分屏、二分屏、四分屏。

大多數客戶的需求。

G.10檔分選及可編程HANDLER接口

儀器提(ti)(ti)供了10檔分(fen)選(xuan)，為(wei)客戶產品質量分(fen)級提(ti)(ti)供了可                                                     在(zai)與(yu)自動化設(she)備連接時，怎么配置HANDLER接口

能，分選結果直(zhi)接輸(shu)出(chu)至HANDLER接口。                                                                   ; 輸(shu)出(chu)，一直(zhi)是自動(dong)化客戶的難題，TH2840系列LCR將

                                                                                                                                    HANDLER接口腳位、輸(shu)入輸(shu)出(chu)方式(shi)、對應(ying)信號(hao)、應(ying)答方式(shi)

                                                                                                                                    等(deng)可(ke)視化，讓自動化連接更(geng)簡單。

H.智能固件升級方式

       儀器(qi)本身(shen)功(gong)能(neng)完善、BUG解決、功(gong)能(neng)升(sheng)級等，都可(ke)以(yi)通(tong)過升(sheng)級固(gu)件(jian)(Firmware)來進行(xing)更新，而無需返廠(chang)進行(xing)。

       TH2840系列(lie)LCR數字電橋固件升級非(fei)常(chang)智(zhi)能，可以通過系統設置界(jie)(jie)面(mian)或者文件管(guan)理界(jie)(jie)面(mian)進行(xing)，智(zhi)能搜索(suo)儀器內存、外接優盤

甚至是局域網內升級包，并自動(dong)進行升級。

I.選配(pei)附件

應用

■ 無源元件：

電(dian)容(rong)器(qi)、電(dian)感器(qi)、磁芯、電(dian)阻器(qi)、壓電(dian)器(qi)件(jian)、變壓器(qi)、芯片組件(jian)和

網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。

■  半(ban)導體元件：

LED驅(qu)動(dong)集成電路寄生(sheng)參數測試分析；變(bian)容二(er)極(ji)管的C-VDC特

性；晶體管或集成電(dian)路的寄(ji)生參數分析

■  其它元件(jian)：

印制電(dian)路板(ban)、繼電(dian)器、開(kai)關、電(dian)纜、電(dian)池等阻抗評估

■  介質材料：

塑(su)料(liao)、陶瓷(ci)和其(qi)它材料(liao)的介電常數和損耗角評估

■ 磁性材料：

鐵氧體(ti)、非晶體(ti)和其(qi)它磁(ci)性材料的導磁(ci)率和損耗角評估

■ 半導體材料：

半導體材料的介電常數(shu)、導電率和C-V特(te)性液晶材料：液晶單元的

介電(dian)常數、彈性常數等C-V特性

■ 各種傳感器:

電子皮膚、振鏡圖像濾光陣列傳感器