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AT826手持LCR 數(shu)字電橋采用高性能32位ARM微處理器控制(zhi)(zhi)。超低(di)功耗設計和高密度SMD裝配工(gong)藝，2.8英寸真彩16M色TFT液晶顯示(shi)屏(ping)(ping)，主(zhu)副參(can)數(shu)同時顯示(shi)，擺脫了工(gong)作臺的(de)限制(zhi)(zhi),為您(nin)移動(dong) LCR 測量提供方便。并具有鍵盤,觸摸屏(ping)(ping)雙控制(zhi)(zhi)。采用鋰電池(chi)供電，USB通訊。中英文操作界面(mian)可快速切換(huan)。是(shi)目前手持LCR數(shu)字電橋的(de)*！
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AT824手持LCR數字電(dian)橋采用(yong)高性能32位ARM微處(chu)理器(qi)控(kong)制(zhi)。超低功(gong)耗設計和高密度SMD裝配工(gong)藝，2.8英(ying)寸真彩(cai)16M色TFT液(ye)晶顯(xian)(xian)示屏(ping)，主副參數同時顯(xian)(xian)示，擺脫了工(gong)作(zuo)臺(tai)的限制(zhi),為(wei)您移(yi)動 LCR 測量提供方便(bian)。采用(yong)鋰(li)電(dian)池供電(dian)，USB通訊。中英(ying)文操作(zuo)界面可(ke)快速(su)切換。
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AT817 LCR數字電橋(qiao) AT817采(cai)用(yong)高(gao)能處(chu)理器(qi)，使(shi)(shi)(shi)用(yong)高(gao)亮彩色VFD屏幕的智(zhi)能LCR測(ce)試儀器(qi)。大(da)規模的貼片技(ji)術的運(yun)用(yong)，使(shi)(shi)(shi)得AT817僅(jin)需微型機(ji)箱即可(ke)容納。依賴于(yu)安柏科(ke)技(ji)*的技(ji)術，使(shi)(shi)(shi)其性能亦無可(ke)挑剔。
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AT817A精(jing)密LCR數字電(dian)橋 AT817A采用高性(xing)能(neng)處理器(qi)，使用高亮彩色VFD屏幕的智能(neng)LCR測試儀器(qi)。大規(gui)模的貼片技術的運用，使得精(jing)密數字電(dian)橋AT817A僅需微型機箱即可容納。依賴于安柏(bo)科(ke)技*的技術，使其性(xing)能(neng)亦無(wu)可挑剔。
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AT820 LCR數字電橋 依(yi)賴于專(zhuan)業的(de)安(an)柏智能儀器技(ji)術，打造出至(zhi)今體積Z小(xiao)的(de)臺式數字電橋。 100Hz，120Hz和1kHz三檔測試頻率，可測試L, C, R, Z, D, Q六(liu)種(zhong)參數。 內建比較(jiao)器，使其適(shi)合(he)元件分選操(cao)作(zuo)。
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AT810采用(yong)高(gao)(gao)能(neng)處(chu)理器(qi)，使(shi)用(yong)高(gao)(gao)亮彩色VFD屏幕的(de)智能(neng)LCR測(ce)試儀(yi)器(qi)。大規模的(de)貼片技(ji)術的(de)運用(yong)，使(shi)得AT810僅需(xu)微(wei)型(xing)機箱(xiang)即(ji)可(ke)容納。依賴于安柏(bo)科(ke)技(ji)*的(de)技(ji)術，使(shi)其性能(neng)亦無可(ke)挑剔。
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AT811精(jing)簡了全(quan)功能型AT810的(de)電路(lu)，大規模的(de)貼片技術的(de)運用，使(shi)用安柏科技經典的(de)微(wei)型機箱。 內建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(ce)試頻率(lv)，并且提(ti)供(gong)0.3V，1V測(ce)試電平，使(shi)其能*一(yi)般(ban)生產現場的(de)使(shi)用。 使(shi)用安柏科技 AT-OS 2007 微(wei)型儀器(qi)操作系統，使(shi)AT811更易用。
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AT770派生(sheng)于全能(neng)型儀(yi)器(qi)AT810，使其(qi)具(ju)有優異性能(neng)。 內(nei)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(ce)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(ce)試電平，使其(qi)能(neng)*一般生(sheng)產現場的使用(yong)。 內(nei)置(zhi)RS232C接(jie)口，兼容(rong)SCPI編程語言，很容(rong)易與計算機通訊，完(wan)成(cheng)所有儀(yi)器(qi)功(gong)能(neng)。 內(nei)置(zhi)Handler接(jie)口，配(pei)合RS232C接(jie)口完(wan)成(cheng)復(fu)雜的自動(dong)控(kong)制系統(tong)。
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AT776派(pai)生于(yu)全能型(xing)儀器(qi)AT817A，使其(qi)具(ju)有(you)優異性能。 內(nei)建50Hz~100kHz測試頻(pin)率(lv)，并且提供0.1V、0.3V和1V測試電(dian)平(ping)，使其(qi)能*多數生產現場(chang)和實驗場(chang)合的(de)使用(yong)。 內(nei)置(zhi)RS232C接(jie)口(kou)，兼(jian)容SCPI編(bian)程語言，很容易與計(ji)算機通訊，完(wan)成所有(you)儀器(qi)功能。 內(nei)置(zhi)Handler接(jie)口(kou)，配(pei)合RS232C接(jie)口(kou)完(wan)成復雜的(de)自(zi)動(dong)控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)。
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AT682是采用高(gao)性能微處理器控制的(de)智(zhi)能測(ce)試(shi)儀器。在不需要(yao)使用電壓源的(de)場合，AT682以(yi)其合適的(de)價格下提供(gong)的(de)測(ce)量性能。 內置1V~1000V任(ren)意電壓輸出，滿足任(ren)何(he)挑剔的(de)要(yao)求。 六量程測(ce)試(shi)，使絕緣(yuan)電阻測(ce)量范圍可達：10k-1TΩ(104~1012Ω)，Z大顯(xian)示(shi)位數9999數。測(ce)試(shi)速度(du)可達55次/秒，高(gao)速測(ce)試(shi)為自(zi)動化生(sheng)產提供(gong)了Z佳方案(an)。
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AT683是(shi)采用高性能微處理器控制的(de)智(zhi)能測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀器。*1V~1000V任意(yi)電(dian)壓輸(shu)出，滿足(zu)任何挑剔的(de)要求。六量(liang)程測(ce)試(shi)(shi)(shi)，使絕緣電(dian)阻測(ce)量(liang)范圍可達(da)：100k-10TΩ(105~1013Ω)，Z大顯示(shi)位數9999數。測(ce)試(shi)(shi)(shi)速度(du)可達(da)55次(ci)/秒，超高速測(ce)試(shi)(shi)(shi)為自動化(hua)生產(chan)提供了(le)Z佳方案。
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AT680是采用高(gao)性能微處理器(qi)控(kong)制的漏電流/絕(jue)緣(yuan)(yuan)電阻(zu)儀(yi)。數(shu)(shu)控(kong)測(ce)(ce)(ce)試電壓(ya)：1V~650V，7量程測(ce)(ce)(ce)試，使漏電流準確度提(ti)高(gao)到1%，它(ta)可(ke)(ke)以測(ce)(ce)(ce)試1nA~20mA的電流，Z大(da)325GΩ的絕(jue)緣(yuan)(yuan)電阻(zu)，Z大(da)顯示(shi)位數(shu)(shu)9999數(shu)(shu)。測(ce)(ce)(ce)試速(su)度可(ke)(ke)達55次/秒，依然保(bao)證1999讀數(shu)(shu)和5%的準確度，超高(gao)速(su)測(ce)(ce)(ce)試為自(zi)動化生(sheng)產提(ti)供了(le)Z佳方案。
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